檢查內(nèi)容 | 點(diǎn)缺陷 | 亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、偏光片雜質(zhì)、漏光點(diǎn)、點(diǎn)狀異物等 |
線缺陷 | 亮線、暗線、淺線、偏光片線狀不良、線狀異物等 | |
面缺陷 | 污斑、灰階、串?dāng)_、背光均勻性、凹痕、氣泡等 | |
檢測(cè)準(zhǔn)確率 | ≥98% | |
檢測(cè)速度(時(shí)間) | 2.7秒/畫幅 | |
檢測(cè)精度 | RGB子像素 | |
屏幕規(guī)格 | 32’~48’,49’~55’,55~65’,65’~75” | |
可定制 | 根據(jù)客戶需求靈活定制結(jié)構(gòu)和檢測(cè)類型 | |
信息化支持 | 云端數(shù)據(jù)分析、上傳MES系統(tǒng)和質(zhì)量評(píng)估系統(tǒng) |